
Perfiles de difracción observado ( ⋅), calculado ( —) y de la diferencia para el refinamiento Rietveld de \mathrm{Sr}_{2} \mathrm{CuWO}_{6} a temperatura ambiente, utilizando un modelo estructural con el grupo espacial I 4 / m. La impureza \mathrm{SrWO}_{4} se ha incluido en el refinamiento como una fase adicional conocida. Los datos representados corresponden a la muestra \mathrm{Sr}_{2} \mathrm{CuWO}_{6}(2) de la Tabla 3.1.
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