
Perfiles de difracción observado ( ⋅), calculado ( -) y de la diferencia para el refinamiento Rietveld de \mathrm{Sr}_{2} \mathrm{CdWO}_{6} a temperatura ambiente, utilizando un modelo estructural con el grupo espacial P 2_{1} / n. Los datos de difracción se han obtenido mediante radiación \mathrm{CuK}_{\alpha}. La impureza \mathrm{SrWO}_{4} se ha incluido en el refinamiento como una fase adicional conocida.
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