
Perfiles de difracción observados (\cdot), calculados ( — ) y de la diferencia para el refinamiento Rietveld de \mathrm{Sr}_{2} \mathrm{CoWO}_{6} a temperatura ambiente (a); y a 200K (b), utilizando modelos estructurales con los grupos espaciales I 4 / m y P 2_{1} / n, respectivamente. La impureza \mathrm{Sr}_{2} \mathrm{WO}_{5} se ha incluido en el refinamiento como una fase adicional conocida. Los datos experimentales se han obtenido con radiación \mathrm{CuK}_{\alpha} (a) y radiación sincrotrón con \lambda=0.8005 \AA (b).
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